Donaciones 15 de septiembre 2024 – 1 de octubre 2024
Acerca de la recaudación de fondos
buscar libros
libros
Donaciones:
53.1% alcanzado
Iniciar sesión
Iniciar sesión
los usuarios autorizados tienen acceso a:
recomendaciones personales
Bot de Telegram
historial de descargas
enviar a correo electrónico o Kindle
gestión de listas de libros
guardar en favoritos
Personal
Solicitudes de libros
Estudio
Z-Recommend
Listas de libros
Más populares
Categorías
Participación
Donar
Cargas
Litera Library
Donar libros en papel
Agregar libros en papel
Search paper books
Mi LITERA Point
Búsqueda de palabras clave
Main
Búsqueda de palabras clave
search
1
Subvolume A
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
S. Pestov (auth.)
cm3
extra
mixture
viii
figure
landolt
börnstein
zli
tni
mol
h11c5
h3c
cryst
density
h7c3
viscosity
refractive
c5h11
ch3
dielectric
5ae2
c3h7
h9c4
h5c2
cst
c24
khz
cm2
h13c6
volume
c23
86m2
5ae1
c22
liq
cukα
h15c7
c19
c20
c21
c18
c6h13
mm2
molar
abstr
c26
c25
h17c8
c4h9
p21
Año:
2003
Idioma:
english
Archivo:
PDF, 17.49 MB
Sus etiquetas:
0
/
0
english, 2003
2
Зеркальное отражение рентгеновских лучей в условиях скользящей дифракции
МГУ, физический факультет
В.А.Бушуев
,
А.П.Орешко
отражения
ϕ0
дифракции
рис
χ0
пленки
скольжения
поверхности
γ0
уравнения
кристалла
зеркального
волн
exp
дифракционного
угла
отражение
кривые
поля
получим
т.е
пленка
подложки
углах
волны
области
слоев
рентгеновских
угол
χh
излучения
условий
ϕc
кдо
лучей
пленке
условия
γh
уравнение
ε1
кристаллической
χ1
кривых
аморфной
амплитуды
γf
границе
кристалл
γs
величина
Año:
2002
Idioma:
russian
Archivo:
PDF, 1.31 MB
Sus etiquetas:
0
/
0
russian, 2002
3
untitled
Unknown
sialon
bsi
si3n4
standards
nitrogen
standard
content
products
silicon
mass
analysis
peak
nitride
sample
determination
phases
2θ
carbide
national
refractory
total
xrd
chemical
si2on2
details
determine
diffraction
global.com
methods
parameters
ray
bonded
calculation
composition
obtained
sampling
αδ
γδ
aln
calculate
fax
indices
latest
measuring
method
quantitative
reference
references
refractories
technical
Año:
2001
Archivo:
PDF, 500 KB
Sus etiquetas:
0
/
0
2001
4
Структура и химический состав покрытия, сформированного электровзрывным методом
Лычагин Д.В.
,
Беляев С.А.
,
Чумаевский А.В.
покрытия
подложки
рис
высокой
лесн
пром
структуры
изображение
мкм
перлита
покрытий
распределения
структура
а.в
беляев
д.в
карты
лычагин
меди
мрса
наблюдается
покрытие
режиме
с.а
состав
состава
углерода
химический
чумаевский
электронов
элементов
вследствие
вторичных
е.и
изд
исследований
крупных
материалы
методом
микроскопическое
плит
поверхности
подложка
представляется
увеличении
химического
электровзрывной
электровзрывным
электронно
cukα
Idioma:
russian
Archivo:
PDF, 3.14 MB
Sus etiquetas:
0
/
0
russian
1
Sigue
este link
o encuentra al bot "@BotFather" en Telegram
2
Envía el comando /newbot
3
Indica un nombre para tu bot
4
Indica un nombre de usuario para el bot
5
Copia el último mensaje de BotFather e insértalo aquí
×
×